为了加强学院教师之间的学术交流，2021年6月15日在实验中心会议室，食品与制药工程学院孟庆龙博士为学院的全体教师和研究生做了题为《基于高光谱成像的水果品质无损检测》的学术讲座。

孟庆龙博士于2017年毕业于四川大学，现为我院副教授，硕士生导师。自入职以来，一直从事农产品无损检测技术研究。已经掌握了一些有关无损检测模型的建模方法，以及特征光谱和特征图像的筛选方法。至今以第一作者身份发表学术论文40余篇，其中SCI论文7篇。担任国际学术期刊《Optical Engineering》和《Optical Materials》审稿专家。

讲座中，孟庆龙博士就基于高光谱成像的水果品质无损检测技术进行相关阐述，介绍了水果内外部品质检测的研究背景，重点阐述了高光谱成像技术应用在水果内部品质无损检测中的优势以及研究方法，并就水果品质无损检测问题与在场师生展开了热烈地讨论。最后，马立志院长对整场报告作了总结发言，并对孟庆龙博士的精彩讲座表示感谢。